集成电路测试技术的发展与整个产业的发展是密不可分的,集成电路的测试贯穿于设计、制造、封装与应用整个产业链。大规模集成电路工作频率高,同时接口单元数据速率越来越高,低压、高速是集成电路发展的方向。ICL7117CM44目前高速、高精度集成电路的生产测试方案更多的是从集成芯片DFT设计的内部数字回环、辅以DFT的数字回环、外部连线回环、外部有源回环和芯片外部ATE专用测试选件、测试模块、测试负载版等方面进行系统考虑,提出系统测试解决方案。

   集成电路测试面对集成度越来越高的情况,对DFT技术提出新的要求,DFT不但要侦测出失效,还需要定位失效,而面对模拟/混合/射频的DFT需求就更为迫切,目前尚缺乏完善的模拟/混合/射频的DFT方案。同时,测试在原来的多工位测试上也要有所发展,必须研发并发测试、自适应测试等技术方案。

   由于芯片产品的集成度越来越高,功能、性能越来越复杂,原来的电子系统变成了现在的单芯片。因此测试的复杂度提升了,使得集成电路的测试成本不断提高。目前集成电路测试领域正在发展的测试方案包括采用更先进的嵌入式仪器,如PXI导入,新的链接技术如无接触探测方案,系统级测试、容错、测试数据集中处理等。

   目前,国内存在的大型通用测试系统多数都是从西方发达国家引进的,而国内大型通用测试系统的研发能力还亟待提升。