数模转换器(DAC)测试实例

1.被测器件介绍A04423

器件具有16个信号处理通道,每个通道都带有数模转换器,能够将△0位数字信号转换成模拟信号,兼容sPI串行通信协议,写时钟频率可达50MHz,回读模式时钟频率也可达到⒛MHz时钟频率,所有寄存器均能写和回读。具备复位功能、GPIO功能、POWER-DOWM功能、固结模式、CLEAR功能、LDAC功能、数据选择功能和数据更新功能。可同时或者分别控制每个信号通道,且能单独寻址。集成GPIo功能,可监视器件内部工作状态。该器件采用四线SPI接口,sYNC为帧同步信号,SDI为串行数据输入信号,sCLK为串行时钟信号,sDo为串行数据输出信号。一帧串行数据为妍位字长,2位模式位,6位地址位,12位数据位。

2,测试需求分析

目前己有高端测试平台配置只能完成8路D/A的测试,更多路D/A往往通过设计测试评估板,通过外接仪表进行手工测试,从而导致测试步骤烦琐,测试效率低下。这种情况在项目验证时尚可接受,但在高低温测试及批量供货测试时则变得难以接受。为完成多路D/A的ATE机台测试,就需要对系统通道进行扩展从而提升其测试能力,但扩展的同时会由于继电器本身的参数(导通电阻、绝缘电阻、带宽等)带来测试误差,为解决扩展通道对测试精度的影响,确保提升测试能力后参数测试的准确性和可靠性,需要对多路D/A的参数测试方法和通道拓展方法进行研究。

3.总体测试方案

为实现较高的测试效率,本方案主要采用继电器对ATE进行测试能力拓展,拓展的同时会带来测试误差。误差是不可避免的,但需要找出影响误差的因素和对测试结果影响的程度,采取必要的措施来保证测试精度。为找到继电器对测试结果的影响,设计了8CH×2坝刂试板(见图4-30)和16CH(见图4名D两种测试板对其进行验证,一种采用跳线的方式,另一种采用继电器进行切换,通过对其数据的对比和分析找出影响的参数和误差的来源,并采取必要措施进行改进。