测试方法研究要点

   1)DDS器件对外接口特`点与可测性研究

   DDs器件对外信号接口包括时钟输入接口、控制信号输入接口、SPI协议接口、DAC与低通滤波器输出接口、寄存器更新控制接口和低功耗控制模式接口。另外,器件在工作与测试中还有一些外围电路支持,如电流型DDs器件的电流调整接口等。 R6507P

   2)DDS器件功能测试方法研究

   DDs器件主要实现可配置频点相位的正/余弦波形产生,从结构上看,有锁相环(PLL)、输入输出(I/o)接口、寄存器、频率累加器、相位累加器、静态存储器(sRAM)、数/模转换器(DAC)和比较器等。

   这些模块有的属于模拟模块,如PLL、DAC和比较器;有的属于数字模块,如V0接口、寄存器、频率累加器、相位累加器和SRAM。I/o接口可读可写,可以是2线制也可以是3线制,可以从高位往低位读写,也可以从低位往高位读写。寄存器有控制寄存器、幅度寄存器、频率转换字寄存器和相位偏移字寄存器等。

   从功能上看,DDs器件有多种工作模式和多种省电模式。工作模式最简单的是单频点模式,还有跳频模式和各种扫频模式,如直接转换模式、上斜坡模式、双向斜变模式、连续双向斜变模式和连续循环模式,以及相位调制功能。DDS器件省电模式有软件控制模式、快速

唤醒模式、全睡眠模式。其中,软件控制模式可对数字模块、比较器、DAC、输入时钟模块分别进行启动或关闭控制;快速唤醒模式令数字模块保持工作,令DAC、输入时钟模块保持关闭,比较器可选择进行控制;全睡眠模式将关闭以上四部分模块,将功耗降到最低。为了验证各模块是否能正常工作,必须对各模块进行操作,同时检测各模块的输出是否正确。对于不能直接观察到的模块部分,可以进行配置,使其能与其他模块共同作用形成可以观测的输出,以验证其功能的正确性,如图⒋28所示为其典型输出波形。