直接数字频率合成器(DDS)测试实例

   1,被测器件

   被测器件为DDs器件,其精度为14位,最高采样频率为1Gsps,器件内部既包含数字部分,也包含模拟部分,属于单片混合信号集成电路。

   ●测试需求分析R5S72643P144FPU

   被测DDS内部有模拟锁相环(Phase-locckcd Loop,PLL)、输入输出(Input/output,yo)接口、寄存器、频率累加器、相位累加器、高速静态存储器(SRAM)、数/模转换器(DAC)、超高速比较器等模块,对测试系统的速度、精度要求特别高,测试比较困难。另外,该器件测试参数众多,部分参数属于射频(Radio Frcquence,RF)参数范畴,如无杂散动态范围(Spuric,us Frcc Dynamic Rangc,sFDR)、相位噪声(Phasc Noisc,PN),单纯采用现有的集成电路测试系统根本无法测试,需要对现有系统进行扩展,测试难度大、实现成本高。

   2,总体测试方案

   被测器件的功能与电参数测试由两套子系统构成,分别为川"机台DDs测试子系统与联机DDS坝刂试子系统。两套子系统各含一块测试板。该系统可以用于测试器件各项试验前后的电参数测试,能够按照产品详细规范规定对要求的全部电参数进行测试。最终电参数测试平台总体构成如图⒋27所示。