测试方案选择

  芯片的测试方案一般有两个,一个方案是用信号源、示波器、电压表、R5F211B4D23SP逻辑分析仪等通用仪器搭建测试平台,该方法的优点是可以采用通用仪器,成本相对较低;缺点是自动化程度差、效率低,同时通用仪器的通道数也有限,无法在芯片引脚数较多的时候进行测试。因此只用于芯片功能较为简单,参数较少的测试。另一个方案是使用大规模集成电路测试系统,该系统测试通道较多,能够产生多路高速和复杂的波形,芯片的功能测试、直流参数测试、交流参数测试基本可以覆盖,自动化程度高、效率高,缺点是集成电路测试系统成本高。

   根据LVDS芯片的测试需求,本例中选择大规模集成电路测试系统作为测试平台,采用某型高端集成电路测试系统,该系统时钟频率为400MHz,数字通道有10z个,可以对每个通道进行波形分析和逻辑分析。图4-25展示了上述系统。该系统拥有TDR(△mc DomainReⅡectomctry)功能,即可以对从测试头V0接口元件到被测器件各个引脚之间不同长度的走线造成的传输延迟进行自动测量和补偿,消除传输线导致的信号传输延迟的影响,从而使时域测试的准确性得到很好的保证。