如图⒋23所示,测试程序调试一般可分为离线调试(omine)和在线调试(c,lllinc)。离线调试目的是提前建立测试程序包,属于虚拟测试,不占用ATE硬件,只使用工作站和测试软件,且可以多用户在后台同时进行。在线调试是对芯片进行实际激励和采样,需要运用半导体测试的理论知识和实践经验,并由设计方提供技术支持。 R2A30232SP

    测试程序调试一般要综合考虑ATE的特点和DUT的特性,会面临许多实际问题。调试过程中常见的问题有:

   (1)测试接口板问题,如电源噪声、信号干扰、阻抗匹配、信号线延迟等;

   (2)向量转换问题,如输入/输出设置错误、双向信号控制错误等;

   (3)测试时序问题,如芯片合理的建立时间、保持时间、传输延迟时间等。测试程序调试过程中碰到的问题,如果是前期向量仿真或向量转换时引入的,则需要重复先前的步骤,不断进行排查。

   测试程序调试通过后,可以进行芯片的设计验证。当测试结果表明芯片的功能和参数指标满足设计要求,将转入大批量生产测试阶段。由于芯片的平均量产测试时间关系到测试成本,也就关系到芯片的最终上市价格,因此,量产前需要进行测试程序的优化。如图⒋24所示测试程序优化一般重点关注如何在满足测试需求的条件下有效缩短测试时间,因此许多时候采用验证的手法,如对VII】VIL/VoH″oL等参数只进行输入/输出的极限条件验证,而不使用参数测量单元(PMU)进行直接测量。若优化结果不理想,可能需要重复先前的步骤,直到找到合适的测试激励。