测试信号合成方法

   ATE的测试信号是由测试时序(tc哎timing)和测试向量(℃“rctor)合成的,如图4-16所示。ACM7060-701-2PL-TL01

   测试时序定义了DUT的信号周期和测试波形,以及每个测试波形相应的定时沿(cdge)的时间点。测试向量是许多代表不同测试波形的代码的集合,图中的“001214…”就是一段组合好的测试量,“0”“1”“2”“4”各代表一个测试波形,其中“0”代表的是一个单脉冲信号,“1”代表的是低电平,“2”代表的是一个双脉冲信号。这些波形都有各自精确的定

时沿,保证了测试信号的准确性。由时序和向量合成的测试信号经驱动电路放大后,可以产生芯片测试所需要的各种激励信号,这就是ATE测试信号的合成原理。

    执行测试指令时,ATE根据测试程序中预先存储的时序和向量,合成完整的测试图形,利用测试头的电子驱动电路产生激励信号,经测试接口板和测试座送入DUT,同时对DUT的输出进行实时采样,将采样结果与期望值进行比较,得出“Pass/Fail”结果,并利用误码存储器(Error Memory)记录详细的误码位置,以便开展进一步的调试和分析工作,如图4-17所示。