输入高低电平漏电的测试

   一般用乃H表示逻辑门输入为高电平时的电流,rIL表示逻辑门输入为低电平时的电流,采用加压测流的方式进行测试。此项测试是为检测器件输入端与器件内部绝缘氧化膜在生产过程中是否太薄,形成类似短路的情况,从而导致器件的失效。H7805AJ其测试原理如图⒋6所示。

   数字集成电路输入引脚漏电测试时,需关注对输入引脚所施加的电平。由于本参数的测试不需要运行向量文件,可以用于一些国外进口复杂逻辑器件集成电路的测试,可以筛除一些初步使用正常但具有质量隐患的集成电路。

   数字集成电路双向脚输入漏电测试时,除关注输入引脚所施加的电平外,还需要运行一定的功能向量,使双向引脚的状态处于输入状态。如图⒋7圆圈处所示(不同ATE设备的具体图形存在差异),为准确测试双向脚的输入漏电,器件需要运行特定向量,并在特定周期停住,此时,某些特定双向脚将处于输入状态,再施加一定的电平测试相应的高低电平漏电。