检验实施相关的管理文件、政策法规等规定了检验活动实施的主要程序,在国家层面,ECH8315-TL-H极少有这方面的标准文件,主要与检验活动所处的领域相关,对一些特殊的行业或联盟,也会存在相应的管理要求,如包括一些特殊要求的航天领域,颁布了国家标准GB/T29凹4―⒛12《宇航元器件鉴定要求》,而国外如美军(MIL体系)、NASA、ESA、美国电动汽车联盟等均有相应的电子元器件检验的管理机构和相应的政策程序文件。

   元器件标准体系中的相关标准绝大部分是检验过程需要依照或参考的标准文件,检验过程的所有程序步骤均需要按照标准文件的规定执行,包括抽样、测试、试验、数据处理、结果判定等,如抽样过程需要按照相应的抽样标准进行,一般按照国标体系中的方法系列标准进行,如GB/T2828.l-2003《计数抽样检验程序 第l部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划》、GB/T2828,2―2008《计数抽样检验程序 第2部分:按极限质量(LQ)检索的孤立批检验抽样方案》、GB/T2828.3―⒛08《计数抽样检验程序 第3部分:跳批抽样程序》、GB/T2828,4―2008《计数抽样检验程序 第4部分:声称质量水平的评定程序》、GB/T2828,10―⒛08《计数抽样检验程序 第10部分:GB/T2828《计数抽样检验系列标准导则》GB/T2828.11―2008《计数抽样检验程序 第11部分:小总体声称质量水平的评定程序等抽样方法》,等等。产品通用规范(民用标准一般为国标,军用标准为国军标)规定了一般通用的产品质量保证程序以及检验分组和相应各分组的试验项目,产品详细规范(均大部分为企军标)则规定了产品的详细要求、参数指标、性能指标及详细的试验条

件、失效判据等内容,如集成电路专业GB/T16464-19%《半导体器件集成电路 第1部分:总则》、GB/T17574―1998《半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路》、GJB5叨一1996《半导体集成电路总规范》、《半导体集成电路××型××某型产品详细规范》。检验进行的试验或测试需要参考相应的标准进行,如集成电路主要参考的技术基础标准GJB548―⒛05《微电子器件试验方法和程序》,“2∞61―⒛“《集成电路A/D和oA转换器测试方法的基本原理》等。