从图22可以看出,产品的失效有三个阶段,早期失效期、偶然失效期和耗损失效期。早期失效期的特点是开始时失效率高,后来逐渐降低。这类失效是由于产品存在先天不足的缺陷造成的,可通过筛选的手段剔除此类早期失效的产品。 HCPL-5630偶然失效期的特点是产品失效率低而稳定,是产品最良好的工作阶段。耗损失效期的特点是产品的失效率随工作时间的增长而上升,这类失效是由于长期疲劳造成物理化学性能变化而引起的。可靠性工作要采取预防性检修的办法来提前更换接近耗损期的元器件,或采取发展长寿命元器件的办法来延长产品的使用寿命。

   通常采用每小时百分之一或千小时的百分之一作为产品失效率的单位,但对具有高可靠要求的产品来说,需采用更小的单位。现在常采用菲特(∏T)作为基准单位。

   这表示每千小时只允许有百万分之一的失效概率。

    按照我国标准的规定,电子元器件的失效率可分为七个等级,见表⒉l。在GB/T17”-79标准中,失效率试验分为定级试验、维持试验和升级试验三种,试验方案在该标准中有明确的要求,其试验项目、试验条件、失效标准、置信度等均应由相关产品规范的可靠性试验要求中规定。特殊试验是指针对特殊用途的产品制定的试验项目。例如,单粒子效应试验、稳态总剂量辐射试验、位移损伤效应试验、热真空试验、镀锡(锡合金)晶须生长试验等,是为了使产品适应空间环境而制定的试验项目,不是一般常规检验项目。