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静电放电测试方法发展趋势

发布时间:2019/5/24 20:05:53 访问次数:2810

   静电放电测试方法发展趋势GC5328IZER

   无论集成电路制造厂家采用何种方法泅|试,莘电吹电△象药实盱清形都可能与试验室产生的波形不相似。因此,作为集成电路制造厂家必须设计一个灵活的结构来保护器件免受损伤,以抵御各种各样的静电放电波形的冲击。

   随着集成电路的规模逐渐增大,引出端的数目达到了上万根,引出端间引入静电放电引起元器件受损的失效模式和失效机理有所不同,为保证静电放电试验考核的全面性,研究全面高效的组合试验方案和发展大规模集成电路静电放电集成测试设备是今后发展的趋势。电连接器的装配质量是系统综合布线中不可忽视的重要环节,其主要故障模式为在周期性应力作用下出现电缆焊接疲劳和引线 折断。

    在电连接器组件的电缆、绝缘体和接触件等不同部位施加一定的轴向力,考核整个电连接器组件的每个电缆、绝缘体和接触件安装定位是否牢固可靠。通过拉脱力检查可及时发现 由圃定不良造成的断路、接触瞬间断电等故障。如GJB1217《电连接器试验方法》中规定:本试验的目的是确定在承受偶然的轴向张力负荷时不会对电缆或连接器产生有害影响时,以及电连接器的电缆夹的夹紧效果。通常要求电连接器及其组仵承受轴向张力时,通过电缆夹

将力传至与金属外壳相连接的尾部附件上,以防止轴向张力传至接触件端接部位,损伤导线与接触件的可靠连接。

   目前在元器件类别中,连接到连接器上的电缆较多需要进行此项试验。拉脱强度这项试验涉及的标准主要有GJB1217。


   静电放电测试方法发展趋势GC5328IZER

   无论集成电路制造厂家采用何种方法泅|试,莘电吹电△象药实盱清形都可能与试验室产生的波形不相似。因此,作为集成电路制造厂家必须设计一个灵活的结构来保护器件免受损伤,以抵御各种各样的静电放电波形的冲击。

   随着集成电路的规模逐渐增大,引出端的数目达到了上万根,引出端间引入静电放电引起元器件受损的失效模式和失效机理有所不同,为保证静电放电试验考核的全面性,研究全面高效的组合试验方案和发展大规模集成电路静电放电集成测试设备是今后发展的趋势。电连接器的装配质量是系统综合布线中不可忽视的重要环节,其主要故障模式为在周期性应力作用下出现电缆焊接疲劳和引线 折断。

    在电连接器组件的电缆、绝缘体和接触件等不同部位施加一定的轴向力,考核整个电连接器组件的每个电缆、绝缘体和接触件安装定位是否牢固可靠。通过拉脱力检查可及时发现 由圃定不良造成的断路、接触瞬间断电等故障。如GJB1217《电连接器试验方法》中规定:本试验的目的是确定在承受偶然的轴向张力负荷时不会对电缆或连接器产生有害影响时,以及电连接器的电缆夹的夹紧效果。通常要求电连接器及其组仵承受轴向张力时,通过电缆夹

将力传至与金属外壳相连接的尾部附件上,以防止轴向张力传至接触件端接部位,损伤导线与接触件的可靠连接。

   目前在元器件类别中,连接到连接器上的电缆较多需要进行此项试验。拉脱强度这项试验涉及的标准主要有GJB1217。


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