应采用等效于图4-154的试验电路,产生如图4-155所示的波形,进行分级试验。GC47668-192AP每个器件在试验前和试验期间都应处于室温下。器件的ESD分级试验是破坏性试验。

   l)EsD模拟电流波形验证

   进行EsD试验时至少应在每个班次开始时,或在改换插座、电路板的情况下,在试验前(取先发生的情况)都需要检查电流波形,以便保证模拟器件正常工作。如果模拟器件不符合所有要求,那么从上一次验证合格后,进行的所有分类试验都应重新进行。在最初设施的验证和以后再验证时,应按下列要求对观察到的波形进行存档,以便检查和比较。

   (1)把被测器件(DUT)插座接到模拟器上。插座上不放DUT。在DUT插座的两个引线孔间插一个短路片(见图午154),短路片的一端接到模拟器A端,另一端接到B端。

   (2)把电流探测器接到短路片的B端附近(见图4-154),按表421第五档的要求使模拟器充电电压岷为80OOV。

   (3)触发一个模拟器脉冲,观察电流波形前沿,电流波形的上升时间、峰值及减幅振荡应符合图⒋155的要求。

   (4)再次触发一个模拟器脉冲,观察整个电流波形,电流波形的下降时间和减幅振荡应符合图⒋155的要求。

  (5)改变电压极性(饩=8O00V),重复上面的验证过程。建议:检查模拟器的输出,以验证每次触发只有一个脉冲,在Cl充电期间,不出现脉冲。为了观察再充电的瞬间过程,将触发脉冲设置为相反极性,增加垂直灵敏度约10倍,然后触发一个脉冲。