试验原理

   集成电路外形尺寸是根据标准GB/T7092 1993《半导体集成电路外形尺寸》来制定的,对每一种不同封装结构类型还有相应的行业标准来确定其具体的尺寸和公差值。M11B416256A-35J集成电路外形尺寸检验的目的就是验证集成电路外形尺寸是否符合有关标准规定。

   1.试验设备

   外形尺寸检验所使用的设备应包括千分尺、卡尺、量规、影像测试仪或能测定规定尺寸的其他测量设备,并能满足其测量精度要求。

   2,试验内容

   根据不同的样品选择合适的测试设备。

   3.试验程序

   游标卡尺

   测量外径如图⒋47所示,红框内部分,钳住物品,得出测量数据。

测量深度如图⒋49所示,红框内部分,探入后,固定标尺,得出测量数据。使用游标卡尺测量零件尺寸时,测量前应检查游标卡尺的测量面和测量刃口是否平直无损,量爪贴合应无明显的间隙,同时游标和主尺的零位刻线要相互对准。为了获得准确的测量结果,应进行多次测量,以降低测量误差。