1.开机、预热M054LAN

   (1)选择“一般”→“光谱”选项,迸入光谱界面。

   (2)放入样品(例如,基准片),聚焦清晰后单击测量。

   (3),约30分钟后,单击“停止测量”按钮,退出光谱界面。

   2.基准测量

   (1)把纯元素“Ag”放在测量台上,聚焦清晰,如图⒋41所示。

图⒋41 底材标样

   (2)软件弹出“测量基准”对话框。然后,单击“开始测量基准”按钮。

   (3)画面显示“放入元素Cu”,此时放入元素铜,聚焦清晰后单击“确定”按钮。

   3.选择测试程式

   X射线荧光测厚仪进行测试时,必须知道待测样品的底材、镀层工序、镀层的金属元素等。

   4.选择准直器大小

   如图⒋辊所示,样品放置方向需与测试孔径同方向,原则上样品的测量点面积需大于测试孔径,请特别注意。