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检测器件封装腔体内存在的自由粒子

发布时间:2019/5/18 19:14:18 访问次数:1818

    本试验是检测器件封装腔体内存在的自由粒子。这是一种非破坏性试验,适用于检G1184TG1U测气密封器件(有密封腔体的)电子产品,适用于GJB128方法20~b^2、GJB y8方法⒛⒛、GJB65B等。这些标准规定的试验方法基本一致,且都是通过元器件的内腔高度决定振动频率。

    除了电磁继电器,其内部的特殊性(器件内部有动触点等活动单元)导致它试验选取的冲击脉冲与其他元器件不同外,一般电子元器件的冲击都是lOO比,加速度分两个条件:条件A和条件B,条件A加速度为2喈,条件B为lOg,主要根据产品的详细规范或客户要求进行选取。

   试验仪器

   粒子碰撞噪声检氵贝刂(PIND)试验需如下设备或与之等效的设备:

   1)一个阈值检测器

   它能检测出比相对于系统“地”的超过预置阈值峰值为20mV土lmV的粒子噪声电压。

   2)振动装置和驱动装置

   它们在下述条件下可对被试器件(DUT)提供基本为正弦的运动:

   (1)条件A――在40~250Hz时峰值为196Ws2。

   (2)条件B――频率大于等于60Hz时峰值为98Ws2。

   3)PIND换能器

   其峰值灵敏度应在15o~160kHz范围内某个频率上,以1W0,luPa要求校准(应以lV/0,luPa对应77,5dB±3dB的要求校准)。

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