进行单粒子试验

   迸行单粒子试验的一般步骤如下:

   (1)试验测试系统的安装; GAL16V8D-25LPN

   (2)安装完毕后,进行系统功能验证,以保证系统的正常;

   (3)靶室(真空罐)系统抽真空;

   (4)调节样品位置,开始辐照试验。

   辐照前应获取束流均匀性数据,保证束流均匀性符合要求;辐照过程中,测试系统监测被测器件发生的单粒子效应,束流测量系统实时监测入射粒子的注量率及入射总注量,记录相应的单粒子效应现象、数据和辐照时间。

   在试验过程中,选取试验方案中规定的离子种类进行试验,所获得的有效LET数据点至少为5个。

   试验后数据处理

   根据离子注量率监测系统记录的数据,计算垂直入射到某一器件表面的总离子注量。绘制出单粒子翻转或闭锁截面随LET值变化的关系曲线,即器件的单粒子翻转或闭锁响应曲线。对重离子测试而言,如果离子入射方向与器件表面有一定的角度,则有效LET值为垂直入射时的LETt值除⒓1入射角的余弦:

   如果入射角度发生变化,有效注量也随之改变。测量到的离子注量应当修正,单粒子效应截面用下式计算,Ⅳ为翻转数,￠为垂直于离子束测量到的离子注量。

    然后根据得到的单粒子事件截面淌入射离子LET的关系曲线,以及器件实际使用的宇航空间辐射环境参数,进行在轨单粒子事件率的预估。目前国内外常用的在轨单粒子事件率预计的软件有spacc radiatioll和CR它ME软件等。

   图3-21所示为国外某型号DAC的单粒子效应数据点,以及采用威布尔函数(W⒍bu11)拟合得到的单粒子效应全截面曲线。