单粒子效应试验标硅

    GJB7242和QJ10005~⒛08是国内半导体器件进行重离子单粒子效应试验的通用标准。GJB7γ2-20I1是国家军用标准,而QJ10005 2008是航天行业标准,二者的内容基本相同,其主要内容如表3-14所示。G690L293T73UF

   关干单粒子试验流程,GJB7⒉2 ⒛1l中给出了单粒子翻转(SEU)和单粒子锁定(sEL)试验流程示意图,具体流程如图3-17和图3-18所示。

    图3-17 单粒子锁定(sEL)试验流程示意图

   由于每一种器件的单粒子效应的表征形式各不相同,不同器件的单粒子效应测试系统有很大的区别。单粒子效应测试系统的结构由被试器件的类型和功能决定,GJB”绲-201l和QJ lO005 2008对单粒子测试系统提出了如下要求:

   (1)能够对器件进行初始化设置;

   (2)能够对器件进行功能测试,具有良好的测试覆盖性;

   (3)具有单粒子效应的诊断和记录功能;

   (4)具有自动复位或手动复位功能;

   (5)具有良好的抗电磁干扰能力;

   (6)具有可控的有效测试时间、电流监测和锁定损伤保护能力。