样品检验的准备工作
发布时间:2019/5/11 18:48:36 访问次数:1178
试验时间
试验条件见表⒉49。表2-49中规定了试验的最短时间。
表⒉49 试验条件
样品检验的准备工作
完成试验后, OP17EZ试验样品应立即用自由流动的去离子水(水温不得超过38℃)至少冲洗5min,以便除去样品表面沉淀的盐。而后样品用空气或惰性气体吹干,进行下述检查。
失效判据
除下文(a)和(b)另有规定外,所有检查都应在放大10~⒛倍的情况下进行。腐蚀色斑不应认为是(a)中所指的缺陷。由引线腐蚀产生的淀积在引线以外部位的腐蚀生成物,不应认为是(a)中所指的缺陷。引线端头的腐蚀和由此腐蚀产生的腐蚀生成物,不应判为不合格。若由于几何形状尺寸或设计(如针栅阵列封装的引线底部或陶瓷双列封装的钎焊部分)不能按(b)做进一步试验的引线,应根据(a)失效判据进行判定。
试验时间
试验条件见表⒉49。表2-49中规定了试验的最短时间。
表⒉49 试验条件
样品检验的准备工作
完成试验后, OP17EZ试验样品应立即用自由流动的去离子水(水温不得超过38℃)至少冲洗5min,以便除去样品表面沉淀的盐。而后样品用空气或惰性气体吹干,进行下述检查。
失效判据
除下文(a)和(b)另有规定外,所有检查都应在放大10~⒛倍的情况下进行。腐蚀色斑不应认为是(a)中所指的缺陷。由引线腐蚀产生的淀积在引线以外部位的腐蚀生成物,不应认为是(a)中所指的缺陷。引线端头的腐蚀和由此腐蚀产生的腐蚀生成物,不应判为不合格。若由于几何形状尺寸或设计(如针栅阵列封装的引线底部或陶瓷双列封装的钎焊部分)不能按(b)做进一步试验的引线,应根据(a)失效判据进行判定。
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