采用GJB548B中规定的要求进行寿命试验时应注意的细则

   (l)标准中3,1,1条中规定“除另有规定外,125℃的寿命试验持续时间至少应为1000h持。此处说明,微电子器件在进行125℃的寿命试验时,试验时间要求≥10OOh,这与一般的寿命试验中试验时间为正负偏差要求的不同。所以,在执行该标准进行稳态寿命试验时,试验时间最好增加几小时。

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   (2)标准中3.1.2条中规定“在规定的试验时间之后72h内,应把器件移出规定的试验条件,在不去掉偏置的情况下达到标准测试条件”。此处说明,器件在从规定的试验条件下恢复到标准测试条件的整个过程中,需要一直施加试验偏置。

   (3)标准中3,2,1条中规定“除另有规定外,试验条件A至E的环境寿命试验温度至少应是125℃”。此处说明,在执行该标准进行寿命试验时,试验温度要求≥125℃,考虑到高温试验箱温度的均匀性和波动度等问题,适当调高1℃~2℃,即将试验温度设定为1冗℃~127°C。