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保证元器件参数能产生足够的退化

发布时间:2019/5/4 16:49:19 访问次数:1164

   各种应力水平下,对试验时间长短的要求如下:

   (1)保证元器件参数能产生足够的退化。

   (2)能区别产品的真实老化效应与随机干扰所造成的影响。随机干扰包括试验误差、试验应力变化引起的误差、仪器或记录不准(精度不够)引起的误差。

    最好能做到所有试验样品都失效,这样统计分析的精度高,但对不少产品,要做到全部失效将会导致试验时间很长,此时可采用定数截尾或定时截尾寿命试验,但要求每一应力水下有50%以上样品失效。如果确有困难,至少要有30%以上失效。如果应力水平下只有5只受试样品,则至少要有3只以上失效,否则统计分析的精度差。

K9WBG08U1M-PCB0

   确定测试周期

   进行加速寿命试验时,采用自动监测设各能得到较高的精确度,但在费用和技术上实施往往有困难。通常应采用定时测量,其时间间隔的长短决定于寿命分布。失效的元器件不要过分集中在某些测量周期内,否则对元器件的失效时间估计将有较大的误差,影响统计分析精度。测试时间的确定与产品的失效规律和失效机理有关,在可能出现失效的时间间隔内应测得密一些,而在不大可能出现失效的时间间隔内少测几次,尽量使每一测试周期内都有产品失效,不应使失效产品过于集中在少数几个测试周期内。

   各种应力水平下,对试验时间长短的要求如下:

   (1)保证元器件参数能产生足够的退化。

   (2)能区别产品的真实老化效应与随机干扰所造成的影响。随机干扰包括试验误差、试验应力变化引起的误差、仪器或记录不准(精度不够)引起的误差。

    最好能做到所有试验样品都失效,这样统计分析的精度高,但对不少产品,要做到全部失效将会导致试验时间很长,此时可采用定数截尾或定时截尾寿命试验,但要求每一应力水下有50%以上样品失效。如果确有困难,至少要有30%以上失效。如果应力水平下只有5只受试样品,则至少要有3只以上失效,否则统计分析的精度差。

K9WBG08U1M-PCB0

   确定测试周期

   进行加速寿命试验时,采用自动监测设各能得到较高的精确度,但在费用和技术上实施往往有困难。通常应采用定时测量,其时间间隔的长短决定于寿命分布。失效的元器件不要过分集中在某些测量周期内,否则对元器件的失效时间估计将有较大的误差,影响统计分析精度。测试时间的确定与产品的失效规律和失效机理有关,在可能出现失效的时间间隔内应测得密一些,而在不大可能出现失效的时间间隔内少测几次,尽量使每一测试周期内都有产品失效,不应使失效产品过于集中在少数几个测试周期内。

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