通过寿命试验可以评价产品的可靠性水平,了解产品失效分布规律和失效模式。通过对失效机理的分析,可以找出产品的失效原因,以便采取有效的改进措施,提高产品的可靠性水平。不同的电子产品,其寿命分布规律是不同的,有些产品的寿命服从指数分布,有些产品的寿命分布服从威布尔分布,有些产品的寿命分布服从对数正态分布。为了方便起见,往往假定产品服从指数分布,据此进行试验设计并开展寿命试验。

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    任何设计合理、工艺成熟、质量控制严格的生产线上生产出来的产品都具有一定的可靠性,这类产品通过严格的工艺筛选剔除掉早期失效产品后,便进入偶尔失效期。在这段时期内,产品的寿命分布接近指数分布,即失效率双莎)接近于常数。这是产品在实际使中较长的一段时期。指数分布的假设与某些元件的使用寿命和试验结果比较接近。实践也表明,即使不少元件的寿命是服从威布尔分布的,但当形状参数为1时,威布尔分布就变成指数分布了。在指数分布的情形下,产品可靠性特征量表达简单,只要掌握了产品的失效率就可以知道产品的全部分布特性,因此,可以利用它作为产品实际分布的一种近似。