KA-2734SRSGC

   OLED器件的寿命定义为,在恒定电流或电压驱动下,器件的亮度下降到初始亮度的一半时所需要的时间。在实际研究工作中,为了加快速度,寿命测试通常采用在高温下或者在高亮度下工作的加速模式。在恒定电流密度驱动下,器件亮度的衰减符合以下公式: 妩和“o分别为初始亮度和经过矽时间后的亮度,rflF9y别是与材料稳定性和器件结构相关的常数,可利用实验数据f、zo、θ,通过上述公

式拟合得到。该器件在初始亮度为￡0时的寿命幻趁可有如下的表示.C都是常数,可根据实验数据Gθ,拟合获得。由此,在任何初始亮度￡0下的寿命幻⒓,便可通过上述公式将L0代人计算得到。器件的寿命是产业化的基本指标之一,是产业化前期必须面对和解决的问题。影响OLED器件寿命的主要机制有以下几个方面:①封装不良导致的水、氧等活性组分的人侵,对电极的腐蚀及对有机材料功能的破坏,从而形成非发光黑斑;②在以A蚝为电子传输层的器件中,由于空穴和电子传输不平衡(空穴较快)而形成的阳离子Alq3+对荧光的猝灭;③较大的金属一有机及有机-有机界面注人势垒会降低器件的寿命;④掺杂发光器件的寿命比相应的未掺杂器件寿命好。另外,oLED器件属于电流型器件,寿命受所通过电荷多少的影响,在一定范围内与驱动电流成反比。因此提高器件的电流效率,即降低驱动电流,可延长一定初始亮度下的寿命。同时,周期性的反向加压,可提高器件寿命。