通过一条具有规定不确定度的不间断的比较链,使测量结果或测量标准的值能够与规定的参考标准(通常是国家计量基准或国际计量基准)联系起来的特性,KA239ADTF称为量值溯源实现量值溯源的最主要的技术手段是校准和检定。

    在规定条件下,为确定测量仪器(或测量系统)所指示的量值,或实物量具(或参考物质)所代表的量值,与对应的由其测量标准所复现的量值之间关系的一组操作,称为校准。它包括两个主要含义:

   (1)在规定的条件下,用参考测量标准给包括实物量具(或参考物质)在内的测量仪器的特性赋值,并确定其示值误差。

   (2)将测量仪器所指示或代表的量值,按照比较链或标准链,将其溯源到测量标准所复现的量值上。

   原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)是扫描探针显微镜(Scanning ProbcMicros∞pe,SPM)的一种,它利用非常细小的探针,非常缓慢地在材料表面移动,以接触或非接触的方式,根据探针和材料表面的相互作用,来探知材料表面的细微结构,如原子的规则排列、表面形貌(topography)等。

   离子束切削加工后,可获得尖端半径更小的探针。探针的尖端大小和探针形状直接影响AFM的平面分辨率,通常,探针越尖,图像的平面分辨率越高。

   探针的定位与扫描需要非常高的尺寸精度,囚此扫描部件一般都使用压电陶瓷元件,在空间的XYz方向上各使用一个元件,可以实现探针的精确的移动控制。

   原子力显微镜主要的构成组件有探针、探针定位与扫描装置、作用力检测部分、反馈控制单元等。

   探针可能经常与样品表面接触,为避免针尖弯折或断裂,探针材料需选择较硬的金属,钨丝是最常用的材料。钨丝经过电化学腐蚀,形成尖端半径为数十纳米的探针,再经由聚焦

   测量仪器的检定,是指查明和确认测量仪器是否符合法定要求的程序,它包括检查、加标记和(或)出具检定证书。

   检定具有法制性,其对象是法制管理范围内的测量仪器。根据检定的必要程度和我国对其依法管理的形式,可将检定分为强制检定和非强制检定两类。强制检定是指由政府计量行政主管部门所属的法定计量检定机构或授权的计量检定机构,对某些测量仪器实行的一种定点定期的检定。