低频磁场抗扰度测试频率要求见表C-14,测试过程中DUT的I作状态应与EMC测试计划一致。采用磁场辐射环方法实施测试前,应先按照s011452-8所规定的步骤进行校准,再按表C-14中的频率要求实施测试c仅允许使用带宽足够大的电流探头监测同路电流,禁止使用分流器。其他注意事项如下: M1MA152KT1G

   l一被测件DUT;2一辐射环;3一电流探头;4一佶号源和放大器;5一示波器;

   6一电池;7一电池;8一传感器;9―执行器;

   10一绝缘攴架;11一接地平板(需要时);12一三轴向位置

   图C19 低频磁场抗扰度辐射环法测试布置图

    ●将DUT各表面分为100mm×100mm的方格,将辐射环对准方格中心c如果DUT表面小于100mm×lflO mm"则将辐射环对准DUT表面的中心。辐射环与DUT表面的距离为~sO mm,环形传感器应与DUT表面平行艮与所有接插件轴向平行;

   ●对每一个测试位置,在规定的每一个频点,向辐射环提供足够的电流,以产生符合要求等级的磁场;

   ●驻留时间不少于2s。如果DUT响应时间长于2s,则应适当延长驻留时问,驻留时间的改变应记录在测试计划中;

   ●如果发现偏离,应降低场强直到DUT功能恢复正常,再增大场强直到偏离再次出现,这一点的场强应记录为偏离的阈值;

  ●如果DUT有附属的电磁传感器,当检验DUT是否正常I作时,需要额外将传感器暴露在磁场中。