光耦两端的数字地与模拟地如何接

   【现象描述】 K3N5C1000D-G10

   本案例是案例“的延续,发生在同一产品中,案例甾分析并解决了EFT/B测试的问题,更改之后,使信号线E叫/B测试能通过±1kⅤ的测试,满足了产品标准的要求,但是当进行辐射骚扰测试时,问题又出现了,辐射骚扰测试频谱图如图5.弱所示,测试不能通过。

   【原因分析】

   进一步测试发现,去掉信号电缆或在电缆上套上磁环,辐射水平大大降低,说明主要与信号电缆有关,而与电缆直接相连的模拟电路部分又不是高速电路,不存在辐射测试中发现的频率及谐波相关频率。而该产品的数字电路部分有一部分是高速电路,其时钟频率为笏MHz,在测试频谱图中可以清楚地看到辐射较高的频点都是犭MHz的倍频。这样,很有可能产生辐射的噪声来自数字电路部分:

   在其他的案例中已经提到过,产生辐射的必要条件是:

   (1)驱动源,它可以是电压源也可以是电流源;

   (2)天线。