全属外壳屏蔽反而导致EMI测试失败

    【现象描述】 E1S25-AB1F7-03

    如图2.78所示的一个采用金属外壳“屏蔽”的AC/DC电源产品(“屏蔽”外壳上盖板没有在图中示出,“屏蔽”外壳上盖板与下盖板通过螺钉接触良好,螺钉之间间距为5cm)在进行辐射发射测试时发现不能通过,测试中还发现,将电源的金属“屏蔽”外壳去除后,测试反而能通过。采用金属“屏蔽”外壳时的辐射发射测试结果频谱图和不采用金属“屏蔽”外壳时的辐射发射测试结果频谱图分别如图2.79和图2.80所示。从图2.79和图2.80测试数据和曲线可以看出,两者的测试结果相差较大。采用金属“屏蔽”外壳时的辐射发射水平远高于不用金属外壳时的辐射发射水平,这似乎与电磁场屏蔽理论相违背。