测量电容式套管的电容量比历史数据增大时,一般存在什么缺陷?为什么?

发布时间:2018/11/29 20:05:49 访问次数:1768

测量电容式套管的电容量比历史数据增大时,一般存在什么缺陷?为什么? KB4540ES5-4.2

测量电容式套管的电容量比历史数据增大时,可能有下面两种缺陷。

(1)套管密封不良,进水受潮。因为水是强极性介质,相对介电系数很大(⒐≈80),而电容与εr成正比,所以水分的侵入使电容电量变大。

(2)电容式套管内部局部游离放电,烧坏部分绝缘,导致电极间的短路。由于套管电容量是多层电极串联电容的总和,如果其中一层或多层被短路,相当于串联电容的个数减小,因而电容量就比原来变大。

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测量电容式套管的电容量比历史数据增大时,可能有下面两种缺陷。

(1)套管密封不良,进水受潮。因为水是强极性介质,相对介电系数很大(⒐≈80),而电容与εr成正比,所以水分的侵入使电容电量变大。