ADC芯片的选取:ADC的位数取决于垂直分辨率,题目要求垂直分辨率32级删v,以8格计,垂直方向上应有32×8=256=2:个量化级,所以ADC的位数应不低于8位。此外,从表7,1.2可知,ADC的采样率应不低于10MHz。 LKP1aF-DC5V所以,本设计选用TI公司生产的TLC5510,它是8位的高速A/D转换芯片,最高采样频率达⒛MHz。

   幅度程控:用模拟开关钔51/LM356及精密电位器构成程控放大电路。由于输入信号最大幅度为8V,而ADC输入电压最大幅度为2V,垂直分辨率的要求范围为0.01~1V/div,所以,放大倍数的范围为

   0,25≤Κ≤25

   从而实现1V/div,0,5V/div,0.2Wdiv,0.1V/div,50mV/div,⒛mV/div和10mV/div7挡垂直分辨率,满足题目要求。

   波形数据处理

   ●峰一峰值测量:用单片机扫描RAM中的波形数据,查找数据的最大值和最小值。式中,Dmax为波形数据最大值;D血n为波形数据最小值;/为垂直分辨率,单位为V/div。

    ●频率测量:用单片机扫描RAM中的波形数据,找到波形上升过零点位置,并记下此点的地址ADR1,再扫描下一个波形上升过零点位置的地址ADR2,则信号的频率可用下式计算/=1/[B×(ADR2-ADR1y20]

式中,B为水平分辨率,单位为√div。

   有效值测量:先扫描RAM中的数据值,用测频法算出波形信号一个周期的地址间隔Ⅳ,然后用下式计算信号的有效值

   AUTOSCALE功能:单片机自动切换水平和垂直分辨率,每切换一次都对采样的数据进行一次处理,测出RAM内波形的峰一峰值和频率值,直到RAM中的波形数据适合显示和外界观察时,便停止换挡,稳定显示。