在几何光学的成像过程中, K4S561632J-UI75假设从物点发出多条光线,由于光学系统像差存在,这些光线在像面上将不会集中于一点,而是形成一个分布在一定范围内的弥散图形,这一弥散图形就称为该光学系统在该视场方向上的点列图。

   利用光学系统在给定方向上的点列图中点集的密集程度来衡量光学系统的成像质量的方法就被称为点列图法[1:]。

   点列图法实际上是采用大量光线追迹的方法获取从物点发出的不同指向(对应人瞳平面上的不同位置)不同波长的光线在像面上的分布况,如图3-犭所示。在大量光线追迹的前提下,像面上光线点迹分布密度就代表了像点的光强分布情况。

   使用点列图时,通常用一定能量集中度的弥散斑直径来评价像质[3]。例如:能量集中度为gO%的弥散斑直径为30um,是指所有的追迹光线中有⒇%的点落在以弥散斑质心为中心的直径为30um的圆内。而弥散斑直径的倒数即为光学系统的分辨率。

   实验表明:在大像差光学系统中,用几何光线追迹所确定的光能分布与实际成像情况的光强度分布是相当符合的[3]。

  利用点列图来评价光学系统的成像质量时,要进行大量光线的光路追迹运算,通常要计算数百条甚至数万条光线,计算量非常大,只有在利计算机进行辅助计算的情况下才能实现。然而这种方法又是一种简便易行而且直观的光学系统成像质量评价方法,常在像差较大的照相物镜等光学系统的设计中得到应用[1:]。