①光学系统的实际分辨率不仅与其几何像差有关,还在很大程度上取决于光学系统的相对孔径(即衍射现象), K4S561632J-UC75只有在几何像差较大的光学系统中,分辨率才可以直接反映系统的几何像差的大小,因此分辨率也常作为大像差光学系统的成像质量评价指标;

   ②用于光学系统分辨率测量的鉴别率板为黑白相间的条纹,这与实际物体的亮度背景有很大的差别,而且由于照明条件和探测器的不同,对同一个光学系统的分辨率测量结果也会有差别;

   ③由于对比度反转可能造成分辨率测量中的“伪分辨率现象”,即光学系统对鉴别率板上的某一组条纹不能分辨,但对更密(分辨率更高)的一组条纹反而可以分辨。基于以上原因,用分辨率来评价光学系统的成像质量并不是一种严格和可靠的成像质量评价方法。尤其当光学系统的像质要求较高时,分辩率法不能满足检测需求。