对于聚苯乙烯电容器，由于材料和工艺原因也会造成击穿失效。某厂对cB14型100V5920pF±o．5%聚苯乙烯电容器进行击穿试验，试验结果发现：HZICSTMPS2171S0G击穿电压的分布大致为两个正态分布，其交接处所对应的击穿电压为2kV。对击穿的试样逐个进行解剖，利用显微镜观察其击穿情况，在0～2kV之间击穿主要是由于引线头部有尖端、毛刺、介质薄膜沾上了导电杂质和其他有害杂质，辅助引线头与头之间的间隙太小，引线在铝箔上点焊时产生的毛刺或溅射的金属筹工艺原因所导致的早期失效。特别是聚苯乙烯介质薄膜，由于绝缘电阻高，其表面有较强的静电吸附效应，在切割、卷绕等生产工序中易吸入尘埃杂质和其他微粒。当生产过程中没有设置必要的防尘、防杂质等净化装置时，这些杂质微粒会夹杂在电容器芯子的介质和极板层之间。在电场作用下，介质间形成不均匀电场，产生电场畸变，引起杂质表面的局部过压而击穿。击穿失效是聚苯乙烯电容器早期失效的主要形式。而在2～7kV之间的击穿样品正态分布区，击穿则主要是引线头部有尖端，薄膜存在厚度不均、针孔，沾上了导电杂质和其他有害杂质，引线尾部有气隙等材料以及某些工艺原因引起的，其失效属于正常损坏。