主流铜研磨液的主要成分及作用
发布时间:2017/11/11 17:44:29 访问次数:1925
对于前两步铜抛光所用研磨液的基本要求是:较高的去除速率、平坦化能力、对阻挡Q1900C-1N层和介质层较高的选择性以及抗腐蚀和缺陷控制能力等。铜抛光研磨液分为酸性、中性和碱性三种,其中的研磨颗粒通常是A12()∴或⒏O?,氧化剂是H20∶,并含有抗腐蚀抑制剂,通常是BTA(三唑甲基苯)以及其他添加物,详见表⊥l。2。由于Cu的电化学势要明显高于Al和W,另一方面铜的硬度要明显低于研磨液中研磨颗粒的硬度(如A12()s或⒏02)。所以,用于Cu CMP的研磨液需要既能氧化铜叉不能侵蚀铜。①通过研磨液的化学作用,在其表面形成几个原子层厚度的较硬的氧化铜,同时叉溶解圆之间的相对转动和研磨液源源不断的加人将含有氧 图l],⊥3 铜研磨的电化学反应化铜的溶液冲走。
表11,2 主流铜研磨液的主要成分及作用
对于前两步铜抛光所用研磨液的基本要求是:较高的去除速率、平坦化能力、对阻挡Q1900C-1N层和介质层较高的选择性以及抗腐蚀和缺陷控制能力等。铜抛光研磨液分为酸性、中性和碱性三种,其中的研磨颗粒通常是A12()∴或⒏O?,氧化剂是H20∶,并含有抗腐蚀抑制剂,通常是BTA(三唑甲基苯)以及其他添加物,详见表⊥l。2。由于Cu的电化学势要明显高于Al和W,另一方面铜的硬度要明显低于研磨液中研磨颗粒的硬度(如A12()s或⒏02)。所以,用于Cu CMP的研磨液需要既能氧化铜叉不能侵蚀铜。①通过研磨液的化学作用,在其表面形成几个原子层厚度的较硬的氧化铜,同时叉溶解圆之间的相对转动和研磨液源源不断的加人将含有氧 图l],⊥3 铜研磨的电化学反应化铜的溶液冲走。
表11,2 主流铜研磨液的主要成分及作用
上一篇:Cu CMP的过程和机理
上一篇:主流阻挡层研磨液的主要成分及作用
热门点击
- N型半导体和P型半导体
- 主流铜研磨液的主要成分及作用
- 铜化学电镀
- 这个电场将使N区的少数载流子空穴向P区漂移
- 主电路的构成
- 样品表面电位差引起的电压衬度
- 进一步改善了器件对短沟道效应的控制
- 半破坏性分析
- 无结场效应晶体管器件制作
- ESD管理体系标准及其相应的认证I作已成为一
推荐技术资料
- 中国传媒大学传媒博物馆开
- 传媒博物馆开馆仪式隆童举行。教育都i国家广电总局等部门... [详细]