传统上,IC测试与设计的关系只是测试时以设计为标准和依据,设计出相应的测试方案。这种T74LS174情况随着集成电路的发展也产生着必然的变化。由于电路规模的增大、电路结构的复杂化,℃测试的难度也随之增加。为了降低测试成本,在设计阶段考虑到测试的需要,增加相应的结构,以降低测试难度,这就是可测性设计(DFT)。

   DFT的基本原则可概括如下:

   ①将模拟部分与数字部分在物理结构和电学性能上尽可能分开;

   ②电路内部所有锁存器和触发器可以初始化;

   ③避免所有可能的异步和多余结构;

   ④避免出现竞争;

   ⑤提供内部模块的控制、检测手段;

   ⑥反馈通路可以断开;

   ⑦谨慎使用有线逻辑;

   ⑧使用控制、测试点;

   ⑨使用分割、选择控制。