晕圈反型杂质掺杂结构和大角度注入反型杂质掺杂结构
发布时间:2017/5/30 12:20:07 访问次数:945
晕圈反型杂质掺杂结构和大角度注入反型杂质掺杂结构
S/D延伸区的结深不但要求纵向结浅,PAM3101AAA330也要求横向杂质扩散小,以更好地改善短沟道效应和抑制吖D穿通效应。为此,有了晕圈反型杂质掺杂结构(Hdo注人)和大角度注入反型杂质掺杂结构(Pocl【et注人)。Halo注人掺杂实为双注人LDD结构,n LDD区周围环绕一个盯区(I1alo区),p区周围环绕一个n区(Hdo区)。Pocl【ct注入掺杂实为大角度倾斜旋转注入,一般以多晶硅栅和吖D做自对准掩蔽。它比Hdo注人有更小的结电容,有利于速度的改善。因为它只环绕LDD区和吖D区邻接处,这样不增加nˉ和p-D区下的杂质浓度。
CMOs电路工艺流程
CMOS工艺是当今各类集成电路制作技术的核心,由它可衍生出不同的工艺。图12△5所示为CM(B工艺集成和对应变化。标准的CMOS工艺主要应用于高性能、低功耗的数字集成电路。如果“CMOS+浮栅”,标准CMOS工艺就转化为M(,~S可擦写存储器工艺。
晕圈反型杂质掺杂结构和大角度注入反型杂质掺杂结构
S/D延伸区的结深不但要求纵向结浅,PAM3101AAA330也要求横向杂质扩散小,以更好地改善短沟道效应和抑制吖D穿通效应。为此,有了晕圈反型杂质掺杂结构(Hdo注人)和大角度注入反型杂质掺杂结构(Pocl【et注人)。Halo注人掺杂实为双注人LDD结构,n LDD区周围环绕一个盯区(I1alo区),p区周围环绕一个n区(Hdo区)。Pocl【ct注入掺杂实为大角度倾斜旋转注入,一般以多晶硅栅和吖D做自对准掩蔽。它比Hdo注人有更小的结电容,有利于速度的改善。因为它只环绕LDD区和吖D区邻接处,这样不增加nˉ和p-D区下的杂质浓度。
CMOs电路工艺流程
CMOS工艺是当今各类集成电路制作技术的核心,由它可衍生出不同的工艺。图12△5所示为CM(B工艺集成和对应变化。标准的CMOS工艺主要应用于高性能、低功耗的数字集成电路。如果“CMOS+浮栅”,标准CMOS工艺就转化为M(,~S可擦写存储器工艺。
上一篇:超浅源漏延伸区结构
热门点击
- 菲克(Fick)第一扩散定律
- 界面陷阱电荷
- 氮化硅无论是晶格常数还是热膨胀系数与硅的失配
- 离子注入与热扩散比较及掺杂新技术
- 磷扩散
- 固溶体主要可分为两类
- 晶面通过一系列称为米勒指数的三个数字组合来表
- 二氧化硅薄膜的结构缺陷主要是氧化层错
- 双极型集成电路工艺流程
- 扩散和离子注入掺磷多晶硅的电阻率曲线
推荐技术资料
- 泰克新发布的DSA830
- 泰克新发布的DSA8300在一台仪器中同时实现时域和频域分析,DS... [详细]