位置:51电子网 » 技术资料 » 计算机技术

光机扫描技术

发布时间:2017/4/24 21:35:10 访问次数:2367

   用于辐射测量或是用于目标探测定位的红外应用系统,均要求系统有较高的空间分辨率(高精度测量和跟踪定位)、较大的探测视场(大范围成像和搜索跟踪),EZJP0V6R8GA一般系统瞬时视场通常要求在0.1rad或毫弧度甚至微弧度量级,而系统视场往往要求几度甚至几十度。反射或折反射式红外系统的光学视场有限,折射式红外系统的光学视场较大但受红外材料的限制较多。此外,由于红外探测器的集成度有限,扩大光学视场势必降低系统的空间分辨率。采用扫描技术是增加探测视场、提高空间分辨率的有效 方法。

   为了满足空间分辨率的需要,系统瞬时视场一般都比较小。受到探测像元数的限制,系统光学视场一般也比较小。为获得较大的成像范围,可用光学机械方法对物方空间进行扫描,如此形成的视场

称为扫描视场。

   扫描视场主要取决于光机扫描的控制模式,与光学系统本身无

直接关系。用单元探测器的光机扫描系统的光学视场等于瞬时视

场,但利用光机扫描可得到很大的扫描视场。

    常用的扫描种类有光机扫描、固体自扫描、仪器平台运动扫描三种。

   固体自扫描的工作原理是采用有焦平面读出能力的集成探测器,可依次读出面阵或线列探测器的各个探测元信号,固体自扫描实

际上是一种电扫描,它与光机扫描有本质上的差别。固体自扫描的

瞬时视场、光学视场和扫描视场的对应关系如图3-64所示。

    

   用于辐射测量或是用于目标探测定位的红外应用系统,均要求系统有较高的空间分辨率(高精度测量和跟踪定位)、较大的探测视场(大范围成像和搜索跟踪),EZJP0V6R8GA一般系统瞬时视场通常要求在0.1rad或毫弧度甚至微弧度量级,而系统视场往往要求几度甚至几十度。反射或折反射式红外系统的光学视场有限,折射式红外系统的光学视场较大但受红外材料的限制较多。此外,由于红外探测器的集成度有限,扩大光学视场势必降低系统的空间分辨率。采用扫描技术是增加探测视场、提高空间分辨率的有效 方法。

   为了满足空间分辨率的需要,系统瞬时视场一般都比较小。受到探测像元数的限制,系统光学视场一般也比较小。为获得较大的成像范围,可用光学机械方法对物方空间进行扫描,如此形成的视场

称为扫描视场。

   扫描视场主要取决于光机扫描的控制模式,与光学系统本身无

直接关系。用单元探测器的光机扫描系统的光学视场等于瞬时视

场,但利用光机扫描可得到很大的扫描视场。

    常用的扫描种类有光机扫描、固体自扫描、仪器平台运动扫描三种。

   固体自扫描的工作原理是采用有焦平面读出能力的集成探测器,可依次读出面阵或线列探测器的各个探测元信号,固体自扫描实

际上是一种电扫描,它与光机扫描有本质上的差别。固体自扫描的

瞬时视场、光学视场和扫描视场的对应关系如图3-64所示。

    

相关IC型号
EZJP0V6R8GA
暂无最新型号

热门点击

 

推荐技术资料

电源变压器制作
    铁心截面积S=34mm×60mm, &nbs... [详细]
版权所有:51dzw.COM
深圳服务热线:13751165337  13692101218
粤ICP备09112631号-6(miitbeian.gov.cn)
公网安备44030402000607
深圳市碧威特网络技术有限公司
付款方式


 复制成功!