模/数信息变换方式
发布时间:2017/4/6 21:45:40 访问次数:478
这种变换方式通常是将待测物理量,P3041PSE1MZB例如长度或角度经过光学变换装置(光栅、码盘等)变为条纹(如莫尔条纹)信息或代码信息,再由光电检测器接收变为数字信息输出。这种方式广泛用于精密测长、测角、工件尺寸检测和精密机床的自动控制。
利用外界因素改变光波的相位(9),通过检测相位变化来测量物理量的原理称为相位调制,分为干涉和衍射两种形式。
光波的相位由光传播的物理长度、传播介质的折射率及其分布等参数决定,也就是说改变上述参数即可产生光波相位的变化,实现相位调制。但是,目前市场上的各类光电检测器不能直接感知光波相位的变化,必须采用光的干涉技术将相位变化转变为光强变化,才能实现对外界物理量的检测。
光在相交区域内,形成一组稳定的明、暗相间或彩色条纹的现象,称为光的干涉现象。
这种变换方式通常是将待测物理量,P3041PSE1MZB例如长度或角度经过光学变换装置(光栅、码盘等)变为条纹(如莫尔条纹)信息或代码信息,再由光电检测器接收变为数字信息输出。这种方式广泛用于精密测长、测角、工件尺寸检测和精密机床的自动控制。
利用外界因素改变光波的相位(9),通过检测相位变化来测量物理量的原理称为相位调制,分为干涉和衍射两种形式。
光波的相位由光传播的物理长度、传播介质的折射率及其分布等参数决定,也就是说改变上述参数即可产生光波相位的变化,实现相位调制。但是,目前市场上的各类光电检测器不能直接感知光波相位的变化,必须采用光的干涉技术将相位变化转变为光强变化,才能实现对外界物理量的检测。
光在相交区域内,形成一组稳定的明、暗相间或彩色条纹的现象,称为光的干涉现象。