呈稳定的空间分布。随着相JW2HN-DC12V位差的变化，干涉条纹强度的分布表现为有偏置的正弦分布。可以看出，干涉条纹的强度信息和被测量的相关参数柏对应。对干涉条纹进行计数或对条纹形状进行分析处理，可以得到相应的被测信息。

   当两束光的频率不同，即式(10.2)中Aco≠0时，干涉条纹将以A缈的角频率随时间波动，形成光学拍频信号，也称为外差干涉信号。如果两束光的频率相差较大，超过光电检测器件的频响范围，将观察不到干涉条纹。在两束光频率相差不大（Aco较小）的情况下，采用光电检测器件可以检测到干涉条纹信号，并且可以通过电信号处理直接测量拍频信号的频差及相位等参数，从而能以极高的灵敏度测量出相干光束本身的特征参量，形成外差检测技术。

   一般干涉测量系统主要由光源、干涉系统、干涉信号接收系统和信号处理系统组成。从信息处理的角度来看，干涉测量实质上是被测信息对光载波调制和解调的过程。各种类型的干涉仪或干涉装置是光频载波的调制器和解调器。光调制技术在光电测量中是极为重要的技术，它将待测物理量的有关信息以信号的形式叠加到光载波上去。我们把完成这一调制作用的装置称为光调制器。光调制器能使光载波的特征参量随被测信号的变化而变化，成为调制光。这种承载信息的调制光由检测系统解调，然后检测出所需的信息。根据光调制器所调制昀光载波的特征参量不同，调制技术可以分为振幅调制(AM)、相位调制(PM)、频率调制(FM)、偏振调制(POM)和光波谱调制(SM)。解调是调制的反过程，它能从被调制的光载波中以与被测参量成比例的光强信号或电信号形式检测出被测参量。解调器可以是光学的、电子的或光电混合的。