测试74Ls194双向移位寄存器逻辑功能的电路图如图21.3所示。按图21,3和下面实验要求接线: FDG6321C

   (1)页D(CIR)、S1、S。、SI'、SR、D、C、B、A分别接到逻辑开关,QD、Qc、Q:、QΛ接到⒐1指示器,CP脉冲接到单次脉冲源输出插口。

   (2)然后按表21.2规定的输人状态,逐项进行测试,并将测试结果记入表21,2中。

   3)清零:令CI'R(R亏)=0,其他输入为任意态,此时寄存器输出QD、Qc、Q:、QA应均为0,然后使CLR(恧亏)=1,即该寄存器为异步复位且响应CLR(RD)的低电平。

   (4)并行输人:令CI只(页D)=s1=S0=1,输人任意4位二进制数,如ABCD,加上CP脉冲,观察寄存器输出状态的变化是否发生在CP脉冲的上升沿,输出是否为QA=A,QP=B,α=C,QD=D,即寄存器进行并行装载的功能。

   (5)右移:清零后,令RD=1,S1=0,Stl=1,由右移输入端SR送入二进制数码0100,在CP脉冲上升沿的作用下(给一次信号按动一次脉冲),观察输出情况是否将输人信号进行右移,流向是SR→QΛ→Q:→Qcs→QD。若不是,请检查并改正为右移传输信号。

   (6)左移:先清零,再令CLR(RD)=1,Sl=1,s。=0,由左移输入端SL送入二进制数码1011,送一个数加一次脉冲,在CP脉冲上升沿的作用下,观察输出情况,是否将输入信号进行左移,流向是SI'→Qr,→Qts→Q:→QA。若不是,请检查并改正为左移传输信号。