LED芯片测试
发布时间:2016/11/5 19:26:18 访问次数:1568
芯片制造完成后,使用专JANTX2N7236用点测机通以⒛lllA的电流进行测试,一采取在芯片的不同位置抽取九个点做参数测试(见图5-26),主要对电压、波长、亮度进行测试,具体测试参数为正向置作电压(VF)、反向漏电流(IR)、波长(WLD)和光输出(LoP)。九点测试后合格的产品被切割成芯片,并用光学显微镜进行目检(VI″C),接着使用全自动分类机根据不同的电压,波长,亮度的参数对芯片进行全自动化挑选、测试和分类。
芯片制造完成后,使用专JANTX2N7236用点测机通以⒛lllA的电流进行测试,一采取在芯片的不同位置抽取九个点做参数测试(见图5-26),主要对电压、波长、亮度进行测试,具体测试参数为正向置作电压(VF)、反向漏电流(IR)、波长(WLD)和光输出(LoP)。九点测试后合格的产品被切割成芯片,并用光学显微镜进行目检(VI″C),接着使用全自动分类机根据不同的电压,波长,亮度的参数对芯片进行全自动化挑选、测试和分类。
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