为了对电子产品或系统的可靠性进行分析研究,必须研DAC7512 究构成电子产品或系统的元器件的可靠性。

   元器件的可靠性通常用经过大量试验而统计出来的失效率来表征。实践发现,普通元器件和半导体元器件的失效规律有相同之处,但也不完全相同。了解元器件失效规律,对于正确使用元器件,从而提高产品可靠性是很有益的。

   普通元器件的失效规律

   电阻器、电容器、继电器等普通元器件,在大量使用后,发坝‘它们有相似的失效规律,如图12,1所示为典型普通元器件的失效率与工作时问的关系。这条关系曲线就是通常所说的 船形或浴盆曲线。

   早期失效期:由于设计、制造上的缺陷等原因,刚刚生产的产品在投入使用的前一段时问内,失效率比较高,这种失效称为早期失效,对应的这段时间叫早期失效期。通过对原材料和生产工艺加强检验和质量控制,可以大大减少早期失效比例。在生产中对元器件进行筛选老化,可 使其早期失效大大降低,以保证筛选后的元器件有较低的失效率。偶然失效期:产品因偶然因素发生的失效叫偶然失效。产品在经过早期失效期后,元器件将进入正常使用阶段,其失效率会显著地迅速降低,这个阶段失效主要表现为偶然失效的时期叫偶然失效期,也称随机失效期。其特点是失效率低而基本稳定,可以认为失效率是一个常数,与时问无关。偶然失效期时问较长,是元器件的使用寿命期。正规化的生产厂商都要采用各种试验手段,把元器件的早期失效消灭在产品出厂之前,并把它们在正常使用阶段

的失效率作为向用户提供的一项主要指标。