具有冗余单元的芯片成品率

发布时间:2016/6/17 21:36:56 访问次数:475

许多大型MOs存储器芯片都设计有备用的冗余单元,以便替换有缺陷的电路单元。H-1-4BNC这种替换在MOS存储器的情况特别简单,因为大部分都是由重复的单元组成的,有缺陷的单元替换通常采用可熔连线来实现。可熔连线是靠激光或电应力进行熔断操作的。

如果设计的存储器芯片内有一列备用单元,那么在某一列中有缺陷的任何芯片都可以用备用单元替换有缺陷的列使电路修复。于是,这种芯片的成品.

是不含缺陷的芯片成品率;Pl是含一个缺陷的芯片几率;叩是含一

个缺陷但能利用单个备用单元修复的芯片几率。这种成品率模型可以扩充到包含更复杂的冗余单元的芯片。

如果设计的存储器芯片内有一列备用单元,那么在某一列中有缺陷的任何芯片都可以用备用单元替换有缺陷的列使电路修复。于是,这种芯片的成品.

是不含缺陷的芯片成品率;Pl是含一个缺陷的芯片几率;叩是含一

个缺陷但能利用单个备用单元修复的芯片几率。这种成品率模型可以扩充到包含更复杂的冗余单元的芯片。