离子残留物(人工测量)。

   按IPC-TM-650中2.3.25节的溶剂萃取测试方法。离子残 G0505S-1W留物的含量应少于1,56ug/cm2氯化钠(Nacl)当量。如果采用其他方法检测时,其灵敏度不应低于上述方法。

   表面绝缘电阻(SIR)。

   推荐以下的测试方法可得知残留物的特性,以达到流程控制的目的。

   ● 萃取溶剂的电阻率(ROSE):按IPGTM-650中2,3,26或2,3,26.1节进行的ROSE测试,可以测出经过整个生产流程后的组件板的离子污染度。

   ● 离子色谱分析(IC):按IPC-TM-650中2.338节进行的离子色谱分析测试,可以测试出离子的种类,在进行初始流程认证或产品的失效分析时特别有用。

   sIR测试后目视检查。

   在所有的被元器件遮住的地方都必须把元器件去除,去除时最好采用剪脚的方法,而不能使用化学品或使用加热的方法。所有的地方需要用10~30倍的放大镜检查是否有腐蚀和树枝形的情况,检查树枝形情况时必须使用背光光源。不允许有腐蚀的情况出现,树枝形不能大于两个导体间距离的⒛%。