棍据总试验元件小时数，确定试NC7S04L6X验时间￡及试验样品数咒。

   样品数量和试验时间，对于寿命服从指数分布的产品，在理论上是不受限制的，但实际上由于产品的分散性等各种因素，为了保证结论的代表性和准确性，要求样品的数量不能太少，试验时间也不能太短或太长。通常根据允许的时间、样品的价格和试验设备的可能，从表3. 19列出的时间中适当地选取。

   按规定条件（额定或加速）进行试验，直到达到累计的元件小时T。时为止。

   关于额定或加速试验问题，我国国标GB 1772-1979电子元器件失效率试验方法中已经明确加以规定，之所以这样规定，是因为确定失效率等级的试验工作量较大，所需试验的元件小时数随失效率的减少而成比例地增高，采用加速试验可以缩短试验时间。但是，为了使鉴定的结论准确可靠，必须要求加速试验的失效机理与额定试验的失效机理相同，加速系数比较准确。在目前这两个问题还没有充分解决的前提下，采用加速试验和额定试验同时进行的办法，而且保证额定试验的元件小时数有相当的比例。

   将试验中出现的失效数r与允许失效数C比较，若r≤C，则定级试验合格；若r>C，则定级试验不合格。