1)通过试验来确定电子元器件的可靠性特性值。试验暴露出在设计、材料、 AD1849KP工艺阶段存在的问题和有关数据，这对设计者、生产者和使用者都是非常有用的。

   2)通过可靠性鉴定试验，可以全面考核电子元器件是否已达到预定的可靠性指标。这是电子元器件新品设计定型必须进行的步骤。

   3)通过各种可靠性试验，了解产品在不同的工作、环境条件下的失效规律，确定失效模式，得到失效机理，以便采取有效措施，提高产品可靠性。

   可靠性试验的分类

   电子元器件常用的可靠性试验的分类方法很多。可靠性试验按其试验地点和试验方式不同可分为两大类：现场试验（工作可靠性的现场测量）和模拟试验（模拟实际工作状态的试验）。试验室进行的可靠性试验多数属于模拟试验。模拟试验按其试验性质分为破坏性试验和非破坏性试验。

   可靠性试验按试验目的可分为可靠性鉴定试验、寿命试验、耐久性试验、筛选试验、可靠性增长试验等。可靠性鉴定试验是为确定产品的可靠性特征值是否达到所要求的水平而进行的试验；寿命试验是为评价分析产品的寿命特征值而进行的试验；耐久性试验是为考察产品的性能与所施加的应力条件的影响关系而在一定时间内所进行的试验；筛选试验是为选择具有一定特性的产品或剔除早期失效产品而进行的试验；可靠性增长试验是通过采取纠正措施，系统并永久地消除某些失效机理，使元器件可靠性获得提高，从而满足或超过预定的可靠性要求的试验。可靠性试验分类如表3.2所示。