对于需要考虑其变化对电路特性影响的那些元器件参数，单击该参数所在行对应Sweep Type的单元格，将弹出扫描类型选择的下拉菜单，A42MX16-FPL84列出可供选择的4种扫描类型(见图6-84)。

   ①Discrete：表示在扫描分析过程中为元器件参数指定几个确定数值；

   ②Linear：表示在扫描分析过程中元器件参数按线性方式均匀变化；

   ③LogarithmicDec：表示参数按以10为底数的对数关系变化，即按数量级关系变化；

   ④LogarithmicOct：表示参数按以2为底数的对数芙系变化，即按成倍关系变化。

   图中显示的是单击电阻R3所在行对应Sweep Type的单元格并选择Discrete的情况。 提示：  “选择扫描类型”这一步也可以与下面关于“设置参数扫描取值”介绍同时进行（参见图6-85）。