偶然失效期出现在早期失效期之后，是产品G5626P11U的正常工作期，其特点是失效率比早期失效率小得多，且产品稳定。失效率几乎与时间无关，可近似为一常数。通常所指的使用寿命就是这一时期，这个时期的失效由偶然不确定因素引起，失效发生的时间也是随机的，故称为偶然失效期。

   偶然失效期产品的失效规律符合指数分布规律。

   耗损失效期出现在产品的后期，其特点刚好与早期失效期相反。失效率随试验或工作时间增加而迅速上升，出现大批失效。耗损失效是由于产品长期使用而产生的损耗、磨损、老化、疲劳等原因所引起的。它是构成元器件本身的材料长期化学、物理不可逆变化所造成的，是产品寿命的“终了”。

   耗损失效期的失效概率分布函数与m>l的威布尔函数所描述的曲线相同。

   但是，对于实际电子产品并不一定都出现上述三个阶段。例如，工艺质量且控制很妤的金属膜电阻有时就不出现早期失效期，又如某些半导体器件没有发生耗损失效期。至于个别产品由于设计、生产工艺不合理，只有早期失效期和耗损失效期，这是由于产品质量过于低劣，此种产品不能正常使用。从上述“浴盆曲线”也可看出，在成批产品中，有些产品的失效率曲线是递增型、递减型和常数型，而宏观表现出来的是由三种类型的失效率

曲线叠加而成。