Scale:该子框用于设置X轴的刻度方式
发布时间:2016/3/7 19:52:51 访问次数:416
Scale:该子框用于设置X轴的刻度方式。Linear和Log分别代表均匀刻度坐标和对数坐标。
Probe的默认设置为Linear。
Use Data:该项子DLW31SN222SQ2L框用于设置显示波形时整个X轴的取值范围。若选中Full(这是Probe的默认设置),则根据模拟分析结果,显示全部波形。若选中Restricted(analog),则用户还需在其下方to的左右两侧分别确定显示波形的X轴范围(适用于模拟电路信号)。
若本项设置的范围大于上述①中确定的X轴刻度范围,则在波形显示窗口中的X轴刻度范围仍由上述①的设置确定,但这时X轴下方将出现水平滚动条,用户可借助滚动条查阅由本项设置确定的X轴范围内的波形。
Processing Options:该子框中的选项用于进行傅里叶分析(Fourier,见5.7节)和电路设计
性能分析(Performance Analysis,见5.5带)。
Scale:该子框用于设置X轴的刻度方式。Linear和Log分别代表均匀刻度坐标和对数坐标。
Probe的默认设置为Linear。
Use Data:该项子DLW31SN222SQ2L框用于设置显示波形时整个X轴的取值范围。若选中Full(这是Probe的默认设置),则根据模拟分析结果,显示全部波形。若选中Restricted(analog),则用户还需在其下方to的左右两侧分别确定显示波形的X轴范围(适用于模拟电路信号)。
若本项设置的范围大于上述①中确定的X轴刻度范围,则在波形显示窗口中的X轴刻度范围仍由上述①的设置确定,但这时X轴下方将出现水平滚动条,用户可借助滚动条查阅由本项设置确定的X轴范围内的波形。
Processing Options:该子框中的选项用于进行傅里叶分析(Fourier,见5.7节)和电路设计
性能分析(Performance Analysis,见5.5带)。
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