设置容差参数包括确定参数变化模式，以及AD5544ARS指定容差大小两项内容。

   (1)参数变化模式的描述。对不同情况下生产的元器件，元器件值的分散情况可能有两种不同的模式。

   DEV模式：又称为独立变化模式。如果生产的一批电路产品中，对应电路设计中同一个元器件的值相互独立，存在分散性，则称为独立变化模式。PSpice中用关键词DEV代表这种变化模式。

   LOT描述：又称为同步变化模式，适用于描述集成电路生产过程。PSpice中用关键词LOT代表这种变化模式。

   如何设置模型参数的变化模式应根据实际情况确定。如果设计的电路要用印制电路板( PCB)装配，则不同PCB中针对电路谩计中同一个元器件采用的元器件参数将独立随机变化，就只需要选用DEV。但是如果设计的电路用于集成电路生产，由于工艺条件的变化，同一晶片上不同管心之间的同一个元器件参数存在随机起伏，这就需要用DEV表示。但是集成电路生产中，不同批次之间的元器件参数还存在起伏波动，就还应该用LOT表示。这就是说，对用于集成电路生产的电路设计进行MC分析时，对要考虑其变化的参数，应同时采用LOT和DEV两种变化模式。

   (2)参数变化容差的设置。在描述参数变化规律的关键词DEV和／或LOT后面，应给出表示容差范围的数字。若数字后跟有百分号“%”，则代表相对变化百分数，否则仅表示变化容差的大小。

 元器件参数变化模式及变化容差的设置需要调用模型参数编辑模块Model Editor来完成。设置方法将在4.3.3节结合差分对实例具体介绍。