光透过待检测物体，其中一EP1S30F780I6N部分光通量被待检测物体吸收或散射，另一部分光通量透过待检物体由光电检测器接收。被吸收或散射的光通量数值决定于待检测物的性质。例如，光透过均匀介质时，光被吸收，透过的光强可由朗伯一比尔( Lambert - Beer)定律表示：0为入射到待测介质表面的光强；a为介质吸收系数；d为介质厚度。

   液体或气体介质的吸收系数仅与介质的浓度成正比。因此，当介质的厚度d-定时，光电检测器上接收的光通量仅与待测介质的浓度有关。这种方式可以用于检测液体或气体的浓度、透明度或混浊度，检测透明薄膜厚度和质量，检测透明容器的缺陷，测量胶片的密度等。

   模／数信息变换方式

   这种变换方式通常是将待测物理量，例如长度或角度经过光学变换装置（光栅、码盘等）变为条纹（如莫尔条纹）信息或代码信息，再由光电检测器接收变为数字信息输出。这种方式广泛用于精密测长、测角、工件尺寸检测和精密机床的自动控制。

   光相位调刹的原理

   利用外界因素改变光波的相位(9)，通过检测相位变化来测量物理量的原理称为相位调制，分为干涉和衍射两种形式。

   光波的相位由光传播的物理长度、传播介质的折射率及其分布等参数决定，也就是说改变上述参数即可产生光波相位的变化，实现相位调制。但是，目前市场上的各类光电检测器不能直接感知光波相位的变化，必须采用光的干涉技术将相位变化转变为光强变化，才能实现对外界物理量的检测。