光辐射入射到本征或非本征芈导体材料上，开始时随时间的增加光生载流子逐渐增加，K4D26323RA-GC33经过一定时间后，载流子浓度才逐渐趋于一稳定值。此后，若突然遮断入射的光辐射，光生载流子并不立即下降到照射前的水平，而是经过一定时间才趋于照射前的水平，这种现象称为光电导的弛豫现象。光辐射入射到本征或非本征半导体材料上，建立稳定的光生载流子浓度所需要的时间，或停止照射后光生载流子浓度下降到照射前的水平所需要的时间，称为光电导的弛豫时间或时间常数。可以证明，对于无“陷阱”存在的本征半导体，其时间常数与载流子寿命相等。弛豫时间的长短反映了光电导惰性的大小。在某些应用中要求光电导的惰性尽量小，否则光电导就跟不上入射光辐射的变化。

    图4.4示出了本征光电导上升和下降的弛豫过程。

    图4.4本征光电导上升和下降的弛豫过程